現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)是精密化、高速化、自動(dòng)化、智慧化、集成化、經(jīng)濟(jì)化、非接觸化和多功能化。
現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)對(duì)一個(gè)社會(huì)發(fā)展起著重要的作用。如果沒(méi)有良好的測(cè)量技術(shù)與測(cè)量手段就很難設(shè)計(jì)和制造出綜合性能和單相性能均良好的產(chǎn)品。因此各個(gè)領(lǐng)域都很重視和發(fā)展現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)。
現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)是一門集光學(xué)、電子、傳感器、圖像、制造及計(jì)算機(jī)技術(shù)為一體的綜合交叉學(xué)科涉及學(xué)科領(lǐng)域它的發(fā)展需要眾多相關(guān)學(xué)科的支持。在工業(yè)制造技術(shù)和科學(xué)研究中測(cè)量?jī)x器具有精密化、集成化、智慧化的發(fā)展趨勢(shì)。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是適應(yīng)上述發(fā)展趨勢(shì)的典型代表。它可以對(duì)生產(chǎn)中的三維復(fù)雜零件尺寸、形狀和相互位置進(jìn)行高準(zhǔn)確度測(cè)量。發(fā)展坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是工業(yè)生產(chǎn)的要求。同時(shí)作為今后主要發(fā)展目標(biāo)，各國(guó)在微/納米測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域開(kāi)展了的應(yīng)用。
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